1. HOME
  2. 物理関連(専門)
  3. 研究情報(登録番号2837)

電子回折の理論および応用

  • 上田 良二上田 良二
Diffraction pattern and magiified image Diffraction pattern is formed on the back focal plane of the lens.

図1 Diffraction pattern and magiified image Diffraction pattern is formed on the back focal plane of the lens.

Electron diffraction patterns of silicon(500kV).
(a) Thin (spot pattern)
(b) Medium (spot pattern and Kikuchi pattern)
(c) Thick (Kikuchi pattern)

写真1 Electron diffraction patterns of silicon(500kV).
(a) Thin (spot pattern)
(b) Medium (spot pattern and Kikuchi pattern)
(c) Thick (Kikuchi pattern)

 回折斑点および Kikuchi Pattern における様々な現象を実験的に研究し、主として動力学的理論で説明した。これらの研究は、最初は単にアカデミックな興味で進められたが、現在では電子顕微鏡像の解釈に利用されており、本研究者の超高圧電子顕微鏡の研究もこれを背景として展開されようとしている。応用研究は極めて広範囲におよんでいるが、その最も重要なものは結晶モアレの発見である。

 本研究の成果に対して、東レ科学振興会は、1966年、上田 良二(名古屋大学)に東レ科学技術賞を贈った。

関連する研究を検索

分野のカテゴリ

物理
(物理)

関連する出来事

データなし

世の中の出来事

1966
ザ・ビートルズが来日する。
1966
『巨人の星』の連載が始まる。

Webページ

データなし

博物館等収蔵品

データなし

キーワード

電子回折、回折斑点、Kikuchi Pattern、超高圧電子顕微鏡、結晶モアレ、電子レンズ、回折像、エピタクシー、電子顕微鏡像、動力学的理論
Page Top